ClassificationsPlakate
Tout va bien, M/2 et Stéphan Landry, Musée Jenisch Vevey
Entwurf
Gavillet & Cie
(CH, 2001 - 2014)
Auftrag
Musée Jenisch, Vevey
(CH, gegründet 1897)
Druck
Serigraphie Uldry AG, Hinterkappelen
(CH, gegründet 1964)
Date[2017]
MediumSiebdruck
Dimensions128 × 89.5 cm
Object numberCH-000957-X:54707
Collections
Gavillet & Rust, Genf
[2012]
Gavillet & Rust, Genf
[2013]